從iData首款Windows Mobile系列終端到Android系列終端，以及即將推出的更高性能、全新設(shè)計(jì)的系列新品……iData任性地堅(jiān)守著“高性能、高可靠，源自iData”的品牌理念，始終專注于為用戶提供最好的移動物聯(lián)終端產(chǎn)品。

        那么，高性能、高可靠的iData產(chǎn)品到底是如何煉成的？下面就讓我們來見證iData產(chǎn)品的一系列專業(yè)、可靠的性能測試！

高低溫測試

模擬iData設(shè)備在低溫（-20℃）和高溫（60℃）環(huán)境下，檢測產(chǎn)品依然能夠正常工作和維護(hù)。

自由跌落測試

從1.5米高度對iData設(shè)備進(jìn)行6面各3次的自由跌落測試，檢測設(shè)備的抗摔性能和結(jié)構(gòu)合理性。

滾筒微跌落測試

iData產(chǎn)品在1250px的滾筒箱，旋轉(zhuǎn)100圈的微跌落實(shí)驗(yàn)，檢測設(shè)備的外殼耐磨性和結(jié)構(gòu)合理性。

按鍵測試和拔插測試

iData產(chǎn)品的高品質(zhì)基因源于對材料的嚴(yán)格篩選，所有按鍵的打擊和所有的接口的插拔都會通過壽命極限測試。

按鍵測試——對產(chǎn)品主按鍵進(jìn)行50萬次，側(cè)按鍵5萬次打擊測試

拔插測試——將設(shè)備插孔與連接插針進(jìn)行5000次插拔測試

ESD防靜電測試

對iData產(chǎn)品進(jìn)行靜電放電，采用靜電高壓測試儀進(jìn)行接觸和間隙測試，確保干燥環(huán)境下靜電對設(shè)備性能無任何影響。

機(jī)殼壓力測試

對iData設(shè)備采用20kg的壓力按壓200次，產(chǎn)品外觀無變形、無異常，功能正常。

電池性能測試

對電池進(jìn)行綜合參數(shù)測試，確保電池性能穩(wěn)定。

iData全系產(chǎn)品同時(shí)要經(jīng)過權(quán)威檢測機(jī)構(gòu)的多項(xiàng)資質(zhì)認(rèn)證。

微波暗室OTA測試

為了使iData產(chǎn)品有良好的無線通信性能，我們通過在微波暗室進(jìn)行OTA測試，檢測產(chǎn)品的通信輻射接收性能數(shù)據(jù)。

                        通信性能射頻傳導(dǎo)測試                                     TRP總發(fā)射功率/TIS接收靈敏度測試

EMC（Electro Magnetic Compatibility）電磁兼容測試

EMC主要分為電磁騷擾測試和電磁抗擾度測試，iData產(chǎn)品在研發(fā)及定型階段都會委托國內(nèi)一流的專業(yè)測試機(jī)構(gòu)進(jìn)行測試，以保證設(shè)備達(dá)到優(yōu)秀的電磁兼容性能。

1. EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測試

電磁騷擾測試主要用于檢測iData設(shè)備所產(chǎn)生的電磁輻射對人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。

輻射騷擾測試（高/低頻段）

2.EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）--電磁抗擾度測試

電磁抗擾度測試可以檢測設(shè)備能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，以確保iData產(chǎn)品在各種電磁環(huán)境中使用不受影響。

射頻電磁場輻射抗擾度測試

SAR（Specific Absorption Rate）測試

為了將電磁波輻射降低至一個(gè)合適的水平，iData每款產(chǎn)品還會進(jìn)行SAR測試。

iData產(chǎn)品多個(gè)方位的SAR測試

            每一臺iData 設(shè)備，都能經(jīng)受專業(yè)嚴(yán)酷的測試：防水防塵、耐高溫、耐沖擊、耐磨損，耐百萬次敲擊……

        iData新一代移動物聯(lián)終端廣泛應(yīng)用于移動醫(yī)療、零售、服裝、物流、抄表、倉儲、食品安全追溯、執(zhí)法等各行業(yè)企業(yè)級移動應(yīng)用領(lǐng)域，幫助海內(nèi)外企業(yè)低成本快速實(shí)現(xiàn)移動作業(yè)，提升管理效益，提高生產(chǎn)力，獲取更高的投資回報(bào)。歡迎咨詢chugun.cn或020-87030040。